Analizzatore di impedenza giapponese HIOKI IM7580ACaratteristiche delle prestazioni
Frequenza di misurazione 1MHz ~ 300MHz
Tempo di misurazione: 0.5ms
Precisione di base ± 0,72% RDG.
Compatto con mezza dimensione del rack, testa di prova solo palmo
Ampia gamma di funzioni di controllo di contatto (misurazione DCR, screening Hi-Z, determinazione della forma d'onda)
Utilizzare le funzioni di analisi per misurare la frequenza della scansione e il livello del segnale
L'host non dispone di strumenti di prova. È necessario utilizzare un dispositivo di prova specifico per l'analizzatore di impedenza IM7580A.
Analizzatore di impedenza IM7580s: funzione di analisi del circuito equivalente
Possibilità di dedurre costanti per cinque schemi di circuito equivalenti sulla base dei risultati delle misurazioni. Inoltre, i valori ideali delle caratteristiche di frequenza possono essere visualizzati tramite funzioni analogiche, utilizzando ipotesi o costanti arbitrarie. Inoltre, utilizzando la funzione comparatore, è possibile determinare se i risultati della misurazione si trovano all'interno dell'area di determinazione.
Analizzatore di impedenza serie IM7580: misurazione LCR con la pinza SMD IM9201
Le frequenze di misura dei cinque modelli della serie IM7580 coprono da 1 MHz a 3 GHz.
Usato in combinazione con il dispositivo di prova IM9201 per 6 dimensioni SMD, è possibile misurare campioni con semplicità e precisione.
Analizzatori di impedenza serie IM7580: funzione di determinazione dell'area
La funzione comparatore del modello di analisi consente di determinare se i valori misurati sono entrati nell'area di determinazione impostata arbitrariamente. La funzione di determinazione dell'area è quella di impostare l'intervallo di valori limite superiore e limite inferiore e di visualizzare il risultato della determinazione in IN/NG.
Analizzatori di impedenza serie IM7580: funzione di determinazione dei picchi
La funzione comparatore del modello di analisi consente di determinare se i valori misurati sono entrati nell'area di determinazione impostata arbitrariamente.
La funzione di determinazione del picco è il limite superiore, il limite inferiore, il limite sinistro e il limite destro per impostare l'intervallo e mostrare in IN/NG se il picco misurato è all'interno dell'area di determinazione.
Analizzatori di impedenza serie IM7580: funzione di determinazione SPOT
La funzione comparatore del modello di analisi consente di determinare se i valori misurati sono entrati nell'area di determinazione impostata arbitrariamente.
La funzione di determinazione SPOT consiste nella selezione di punti di scansione e parametri arbitrari per un massimo di 16 punti.
Analizzatori di impedenza serie IM7580: funzione comparatore
Utilizzando la funzione comparatore, è possibile determinare se i valori misurati rientrano nell'area di determinazione impostata arbitrariamente.
Applicabile per la funzione di determinare se un campione è idoneo.
Analizzatori di impedenza serie IM7580: controllo di contatto
Utilizzando la funzione di controllo di contatto, è possibile controllare i campioni e misurare lo stato di contatto della porta, nonché confermare le condizioni di cattivo contatto e lo stato di connessione.
Analizzatori di impedenza serie IM7580: metodi di connessione della testa di prova
Il cavo di collegamento della testa di prova collega l'analizzatore di impedenza.
Serrare il dado dopo aver piegato leggermente la maniglia della chiave di torsione (0,56 N·m).
Attenzione a non girare la testa.
Software di calcolo di precisione
La precisione del calcolo è semplice con l'inserimento di valori numerici.
Analizzatore di impedenza giapponese HIOKI IM7580AParametri di base
Modalità di misurazione LCR (misurazione LCR), analisi (misurazione di scansione), misurazione continua
Parametri di misurazione Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q
Garanzia di precisione 100 mΩ~5 kΩ
Gamma di visualizzazione Z: 0.00m~9.99999 GΩ / Rs, Rp, X: ± (0.00 m~9.99999 GΩ)
Ls, Lp: ± (0.00000 n~9.99999 GH) / Q: ± (0.00~9999.99)
θ: ± (0.000°~999.999°), Cs, Cp: ± (0.00000 p~9.99999 GF)
D: ± (0.00000~9.99999), Y: (0.000 n~9.99999 GS)
G, B: ± (0.000 n~9.99999 GS), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)
Precisione di base Z: ±0.72 % rdg. θ: ±0.41°
Frequenza di misurazione 1 MHz ~ 300 MHz (passo 100 Hz ~ 10 kHz)
Misura del livello del segnale Potenza (dbm) modalità: -40,0 dbm~ +7,0 dbm
Tensione (V) modalità: 4 mV ~ 1001 mVrms
Corrente (I) Modalità: 0.09 mA ~ 20.02mArms
Impedanza di uscita 50 Ω (a 10 MHz)
Mostra TFT a colori da 8,4 pollici, touch screen
Tempo di misurazione 0,5 ms (FAST, tempo di misurazione analogico, valore rappresentativo)
Funzionalità Controllo del contatto, comparatore, determinazione del BIN (funzione di classificazione), lettura e salvataggio del pannello, funzione di archiviazione, analisi del circuito equivalente, compensazione correlata
Interfaccia I/O EXT (processore), comunicazione USB, unità USB, LAN
RS-232C (opzionale), GP-IB (opzionale)
Alimentazione AC 100~240 V, 50/60 Hz, 70 VA max
Volume e peso Ospitale: 215W × 200H × 268D mm, 6,5 kg
Testa di prova: 61W × 55H × 24D mm, 175 g
Accessori Cavo di alimentazione ×1, testa di prova ×1, cavo di connessione ×1, manuale d'uso ×1, CD-R (manuale di comunicazione) ×1